高频低阻电解电容容衰的真正原因
开路失效
电腐蚀导致铝引出条断裂和电容器芯子干涸,是开关稳压电源用高频低阻电解电容开路失效的主要失效模式。八十年代起,我国彩电用铝电解电容器开始国产化,当时国内电子元件学术界对阳极引线导针腐蚀断裂使得电容器正极端引出线(引出箔)开路失效机理进行了认真的研究。国内铝电解电容器同行进行了技术攻关,已经基本解决了这一技术问题。然而近几年来五所研究分析中心受理的元件失效分析任务中,又发现多起开关稳压电源用铝电解电容器开路失效的失效模式。这一情况,高频低阻电解电容哪家好,必须引起我们高度重视。电容器芯子干涸,是导致开关稳压电源用高频低阻电解电容开路失效的另一类失效模式。而铝壳空腔内的高气压和漏液是产生电容器芯子干涸的根源。